Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (12)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Danilchenko S$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 13
Представлено документи з 1 до 13
1.

Berestok T. O. 
Structural Properties of ZnO Thin Films Obtained by Chemical Bath Deposition Technique [Електронний ресурс] / T. O. Berestok, D. I. Kurbatov, A. S. Opanasyuk, S. M. Danilchenko, O. P. Manzhos // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2012. - Vol. 1, no. 3. - С. 03TF20-03TF20. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2012_1_3_21
Zinc oxide thin films have been deposited onto glass substrates from zinc sulfate, ammonia and thiourea aqueous solution by chemical bath deposition. In the work there were specified solution preparation procedure and optimized the composition of the solution and content of component in it. X-ray diffraction and high-resolution scanning electron microscopy were used to characterize structure formation of obtaining ZnO films. As a result of investigation the effect of time deposition on the structural and substructural properties such as lattice parameters, texture quality, coherent scattering domain size was determined.
Попередній перегляд:   Завантажити - 654.733 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Klymov O. V. 
Substructural Features of Zn1-xMnxTe Solid Solution Thin Films [Електронний ресурс] / O. V. Klymov, D. I. Kurbatov, A. S. Opanasyuk, S. M. Danilchenko, H. M. Khlyap // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2012. - Vol. 1, no. 3. - С. 03TF23-03TF23. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2012_1_3_24
Попередній перегляд:   Завантажити - 342.726 Kb    Зміст випуску     Цитування
3.

Kuznetsov V. N. 
Structural Properties of the Nanocrystallized Magnetite of Different Syntheses [Електронний ресурс] / V. N. Kuznetsov, A. S. Stanislavov, S. N. Danilchenko, O. V. Kalinkevich, A. N. Kalinkevich, L. F. Sukhodub // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 4. - С. 04NABM16-04NABM16. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_4_40
Попередній перегляд:   Завантажити - 418.176 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Kuznetsov V. N. 
The Study of the Influence of Static Magnetic Field on Brushite Crystallization in the Presence of Magnesium [Електронний ресурс] / V. N. Kuznetsov, A. A. Yanovska, A. S. Stanislavov, S. N. Danilchenko, L. F. Sukhodub // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 4. - С. 04NABM17-04NABM17. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_4_41
Попередній перегляд:   Завантажити - 519.786 Kb    Зміст випуску     Цитування
5.

Kalinichenko T. G. 
Nanoscale Apatite Biomaterials for Osteointegration [Електронний ресурс] / T. G. Kalinichenko, S. N. Danilchenko // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2013. - Vol. 2, no. 4. - С. 04NABM21-04NABM21. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2013_2_4_45
Попередній перегляд:   Завантажити - 183.868 Kb    Зміст випуску     Цитування
6.

Berestok T. O. 
Structural Properties of ZnO Thin Films Obtained by Chemical Bath Deposition Technique [Електронний ресурс] / T. O. Berestok, D. I. Kurbatov, N. M. Opanasyuk, A. D. Pogrebnjak, O. P. Manzhos, S. M. Danilchenko // Журнал нано- та електронної фізики. - 2013. - Т. 5, № 1(1). - С. 01009-1-01009-4. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2013_5_1(1)__11
Zinc oxide thin films have been deposited onto glass substrates from zinc sulfate, ammonia and thiourea aqueous solution by chemical bath deposition. In the work there were specified solution preparation procedure and optimized the composition of the solution and content of component in it. X-ray diffraction and high-resolution scanning electron microscopy were used to characterize structure formation of obtaining ZnO films. As a result of investigation the effect of time deposition on the structural and substructural properties such as lattice parameters, texture quality, coherent scattering domain size was determined.
Попередній перегляд:   Завантажити - 465.469 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
7.

Kalinkevich O. V. 
Formation of Nanocrystalline Hydroxyapatite in Presence of Some Aminoacids [Електронний ресурс] / O. V. Kalinkevich, S. N. Danilchenko, A. N. Kalinkevich, V. N. Kuznetsov, J. J. Lü, J. Shang, S. R. Yang // Журнал нано- та електронної фізики. - 2014. - Т. 6, № 4. - С. 04014-1-04014-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2014_6_4_16
The influence of three amino acids on the hydroxyapatite formation in vitro under mild condition was investigated. The mineral obtained was studied by transmission electron microscopy and powder X-ray diffraction. The experiments suggest that the addition of these amino acids has a significant effect on the phase composition, crystal size and lattice microstrains of the resulting calcium phosphate mineral.
Попередній перегляд:   Завантажити - 694.081 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
8.

Ivashchenko M. M. 
Structural and optical characteristics of ZnSe and CdSe films condensed on non-oriented substrates [Електронний ресурс] / M. M. Ivashchenko, A. S. Opanasyuk, N. M. Opanasyuk, S. M. Danilchenko, V. V. Starikov // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2011. - Vol. 14, № 2. - С. 157-163. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2011_14_2_6
In this work, the complex investigation of structural and optical properties of zinc and cadmium selenide semiconductor films deposited by close-spaced vacuum sublimation method using thermal evaporation on non-oriented substrates was carried out. The structural and phase analyses of the layers condensed at different substrate temperatures were performed. The transmission and reflection spectra of the investigated films have been measured and their main optical characteristics have been calculated.
Попередній перегляд:   Завантажити - 357.249 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
9.

Yanovska A. A. 
Synthesis and characterization of copper-loaded hydroxyapatite-alginate microspheres [Електронний ресурс] / A. A. Yanovska, S. B. Bolshanina, A. S. Stanislavov, V. N. Kuznetsov, A. B. Mospan, V. Yu. Illiashenko, Yu. V. Rogulsky, Ya. V. Trofimenko, S. N. Danilchenko // Хімія, фізика та технологія поверхні. - 2017. - Т. 8, № 4. - С. 400-409. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/khphtp_2017_8_4_8
Мікросфери гідроксиапатиту (ГА) в альгінатній оболонці можна успішно застосовувати для контрольованого вивільнення лікарських засобів, факторів росту та антибактеріальних сполук. Гідроксиапатит є відмінним матеріалом для створення біоматеріалів завдяки своїй високій сорбційній ємності до іонів металів, низькій розчинності у воді, високій стабільності до окисників і відновників, низькій ціні та біосумісності. Альгінат натрію (Альг) використовується для утворення мікросфер завдяки його здатності до комплексоутворення з двовалентними катіонами (Cu<^>2+, Ca<^>2+ та ін.). Мікрогранули ГА/Альг-Cu одержано з використанням двох варіантів синтезу, і вони мають більш шорсткувату поверхню ніж мікросфери ГА/Альг-Ca, що покращує проліферацію клітин. Результати рентгенівської дифракції свідчать, що ГА є основною кристалічною фазою в отриманих мікросферах. Відповідно до результатів дослідження кінетики адсорбції, ГА вносить основний вклад у процес адсорбції йонів Cu<^>2+. Температура, збільшуючи швидкість процесу адсорбції, має незначний ефект на адсорбційну ємність ГА завдяки насиченню енергетично гетерогенних активних центрів на поверхні мікросфер йонами Cu<^>2+. Адсорбція йонів Cu<^>2+ мікросферами ГА/Альг має іонообмінний характер і становить близько 60 мг/г. Завдяки виходу іонів Cu<^>2+ отримані мікросфери мають антибактеріальний ефект на S. aureus та E. сoli в концентрації 6 мг/мл.
Попередній перегляд:   Завантажити - 351.423 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
10.

Kalinkevich O. V. 
Formation of antibacterial coatings on chitosan matrices by magnetron sputtering [Електронний ресурс] / O. V. Kalinkevich, O. Yu. Karpenko, Ya. V. Trofimenko, A. M. Sklyar, V. Yu. Illiashenko, A. N. Kalinkevich, V. A. Baturin, S. N. Danilchenko // Хімія, фізика та технологія поверхні. - 2017. - Т. 8, № 4. - С. 410-415. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/khphtp_2017_8_4_9
За допомогою методу магнетронного розпилення одержано тонкі мідні покриття на біодеградуючих хітозанових матрицях. Вивчено фізико-хімічні характеристики одержаних покриттів, а також їх антибактеріальні властивості. Вміст міді не перевищує порогу токсичності для людини 200 - 250 мг/доба. Наявність ультратонкої мідної плівки не змінює морфологію та кристалічну структуру плівок хітозану, але значно підвищує їх антибактеріальні властивості; зокрема, плівки пригнічують ріст S. aureus.
Попередній перегляд:   Завантажити - 186.029 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
11.

Danilchenko S. N. 
The Study of Thermally Stimulated Hydrogen Evolution from Steels by Thermal Desorption Mass Spectrometry Technique [Електронний ресурс] / S. N. Danilchenko, V. D. Chіvanov, A. O. Stepanenko, A. N. Kalinkevich, A. V. Kochenko, P. S. Danylchenko, V. N. Kuznetsov // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 6. - С. 06008-1-06008-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2019_11_6_10
Експериментально досліджено кінетику видалення водню з електролітично насичених зразків двох різних класів сталі (феритної і аустенітної). Температурні залежності виділення водню було одержано за допомогою установки вакуумної температурної екстракції з мас-спектрометричною реєстрацією утворених летючих компонент. Для обох марок сталі процес виділення водню можна представити таким, що складається з двох стадій, які накладаються одна на одну з різним ступенем розділення. Припускаючи, що кожна стадія відповідає певній формі присутності водню у матеріалі (специфічному місцю локалізації), кінетичні параметри процесу видалення газу оцінювались для обох стадії двох зразків сталі. Ідентичність/схожість кінетичних параметрів першої стадії вказує на однакову форму знаходження водню в обох зразках сталі. Вбачається/припускається, що це водень поверхневої локалізації. Кінетичні параметри другої ("високотемпературної") стадії мають більш суттєві відмінності, що може свідчити про відмінності у кінетиці температурного видалення водню з приповерхневих шарів <$Ealpha>-Fe і <$Egamma>-Fe. Дані параметри можуть слугувати маркерами локалізації водню у різних сталях та надавати змогу порівнювати співвідношення різних форм знаходження водню у таких матеріалах.Експериментально досліджено кінетику видалення водню з електролітично насичених зразків двох різних класів сталі (феритної і аустенітної). Температурні залежності виділення водню було одержано за допомогою установки вакуумної температурної екстракції з мас-спектрометричною реєстрацією утворених летючих компонент. Для обох марок сталі процес виділення водню можна представити таким, що складається з двох стадій, які накладаються одна на одну з різним ступенем розділення. Припускаючи, що кожна стадія відповідає певній формі присутності водню у матеріалі (специфічному місцю локалізації), кінетичні параметри процесу видалення газу оцінювались для обох стадії двох зразків сталі. Ідентичність/схожість кінетичних параметрів першої стадії вказує на однакову форму знаходження водню в обох зразках сталі. Вбачається/припускається, що це водень поверхневої локалізації. Кінетичні параметри другої ("високотемпературної") стадії мають більш суттєві відмінності, що може свідчити про відмінності у кінетиці температурного видалення водню з приповерхневих шарів <$Ealpha>-Fe і <$Egamma>-Fe. Дані параметри можуть слугувати маркерами локалізації водню у різних сталях та надавати змогу порівнювати співвідношення різних форм знаходження водню у таких матеріалах.
Попередній перегляд:   Завантажити - 337.618 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
12.

Danilchenko S. N. 
Calibration of X-ray Diffraction Measurements for Depth-selective Structural Analysis of Two-layer Samples [Електронний ресурс] / S. N. Danilchenko, O. V. Kochenko, A. N. Kalinkevich, A. O. Stepanenko, Ye. I. Zinchenko, P. S. Danylchenko, I. Yu. Protsenko // Journal of nano- and electronic physics. - 2021. - Vol. 13, no. 2. - С. 02037-1-02037-6. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2021_13_2_39
У металевих конструкціях, які одержують під час експлуатації значні механічні і радіаційні навантаження, виникають структурні альтерації, що нерівномірно розподілені по глибині матеріалу. Такою же мірою складними об'єктами структурних досліджень є і матеріали з модифікованою поверхнею, включаючи тонкі покриття і мультишари. Розвиток методів селективної за глибиною пошарової рентген-дифракційної діагностики є нетривіальним завданням, спрямованим на контроль ефективної глибини збору структурної інформації. На сьогодні найбільш розроблені підходи включають: асиметричну (ковзну) геометрію та застосування первинного випромінювання з різною проникаючою здатністю. В обох випадках для визначення товщини шару ефективного відбивання необхідно виконати калібрувальні процедури із використанням покриттів або двошарових систем відомої товщини. У даній роботі вивчено можливості рентгенівської дифракції для аналізу зразків сталі та заліза з тонким (мікронним) мідним покриттям. За ослабленням інтенсивності ліній підкладки заліза здійснюється оцінка товщини мідного покриття. Із застосуванням несиметричної (скісної) зйомки встановлено умови зникнення ліній від підкладки, що надало змогу з прийнятною точністю оцінювати товщину шару сталі, який бере участь в утворенні дифракційної картини. Апробовано метод диференціальної за глибиною оцінки структурних характеристик "інтерфейсної" і умовно "об'ємної" областей підкладки <$Ealpha>-Fe шляхом застосування поліхроматичного кобальтового випромінювання. Обговорено обмеження апробованого підходу і можливості його застосування до більш широкого спектра сталей. Розглянуті особливості рентген-дифракційних досліджень модельних систем типу "сталь-покриття" або "сталь-модифікована поверхня" важливі під час вивчення поверхневих радіаційно-стимульованих структурних альтерацій в сталях енергетичного машинобудування.
Попередній перегляд:   Завантажити - 664.743 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
13.

Danilchenko S. N. 
Comparative XRD Analysis of the Stress State of a Thin Tungsten Ribbon and Magnetron-Sputtered Tungsten Coatings [Електронний ресурс] / S. N. Danilchenko, A. V. Kochenko, A. N. Kalinkevich, O. Yu. Karpenko, V. A. Baturin // Journal of nano- and electronic physics. - 2022. - Vol. 14, no. 1. - С. 01026-1-01026-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2022_14_1_27
За допомогою методу рентгенівської тензометрії (<$Esin sup 2 psi> метод) досліджено напружений стан прокатаної вольфрамової стрічки та покриттів вольфраму, магнетронно напилених на підкладці з феритної сталі. У вольфрамовій стрічці виявлено площинні двовісні стискаючі напруження <$Esigma sub y ~=~ -0,40> ГПа і -0,45 ГПа у напрямку прокатки та <$Esigma sub x ~=~-0,28> ГПа і -0,25 ГПа у напрямку, перпендикулярному напрямку прокатки з лицьової та зворотної сторони, відповідно. У покриттях вольфраму на сталевій підкладці виявлено площинні рівновісні стискаючі напруження, вісесиметричні відносно нормалі до поверхні <$Esigma sub x ~=~sigma sub y ~=~sigma sub phi>. Величини напружень у вольфрамових покриттях у кілька разів вищі, ніж у вольфрамовій стрічці. Найбільше напруження стиснення (-3,7 ГПа) виявлено у вольфрамовому покритті номінальною товщиною 250 нм, у покритті товщиною 460 нм рівень напружень у 1,5 разу нижчий. Особливістю проведеного аналізу було те, що у випадку вольфрамової стрічки використовувалася лінія (310), яка безумовно належить до прецизійної області кутів дифракції, тоді як у випадку вольфрамових покриттів через перекриття (310) лінії W та лінії (220) <$Ealpha - roman Fe> підкладки, використано лінії (220) та (211), які задовольняють цій умові меншою мірою. Застосування відносно м'якого Co-випромінювання (у порівнянні з Cu-випромінюванням) дещо пом'якшило цю невідповідність. Параметр гратки, що відповідає недеформованому перетину еліпсоїда деформації (<$Ealpha sub 0>), у вольфрамовій стрічці був нижчим, а у покриттях - вищим, ніж довідкове значення для <$Ealpha - roman W>; зі збільшенням товщини покриття ця відмінність збільшується. Причини цих розбіжностей обговорено. З розгляду розширення дифракційних піків вольфраму встановлено, що як малі розміри кристалітів, так і мікродеформації кристалічної гратки є причиною цього розширення у зразках обох груп, хоча мікроструктура покриттів значно дефектніша.
Попередній перегляд:   Завантажити - 371.689 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського